TestNG基本注釋二:基本注釋解釋
在TestNG基本注釋一中,我們給出來一個(gè)用eclipse IDE生成的TestNG測(cè)試類:
package test.java.com.testng.test; import org.testng.annotations.Test; import org.testng.annotations.BeforeMethod; import org.testng.annotations.AfterMethod; import org.testng.annotations.DataProvider; import org.testng.annotations.BeforeClass; import org.testng.annotations.AfterClass; import org.testng.annotations.BeforeTest; import org.testng.annotations.AfterTest; import org.testng.annotations.BeforeSuite; import org.testng.annotations.AfterSuite; public class LoginTest { @Test(dataProvider = "dp") public void f(Integer n, String s) { } @BeforeMethod public void beforeMethod() { } @AfterMethod public void afterMethod() { } @DataProvider public Object[][] dp() { return new Object[][] { new Object[] { 1, "a" }, new Object[] { 2, "b" }, }; } @BeforeClass public void beforeClass() { } @AfterClass public void afterClass() { } @BeforeTest public void beforeTest() { } @AfterTest public void afterTest() { } @BeforeSuite public void beforeSuite() { } @AfterSuite public void afterSuite() { } } |
上面代碼中的具體解釋如下:
@BeforeSuite - 針對(duì)測(cè)試套件,在當(dāng)前的測(cè)試套件運(yùn)行前執(zhí)行的方法 @AfterSuite - 針對(duì)測(cè)試套件,在當(dāng)前的測(cè)試套件運(yùn)行后執(zhí)行的方法 @BeforeTest - 針對(duì)測(cè)試套件, 在任何屬于這個(gè)類的并且用<test>標(biāo)簽標(biāo)記的測(cè)試方法運(yùn)行前運(yùn)行 @AfterTest - 針對(duì)測(cè)試套件, 在任何屬于這個(gè)類的并且用<test>標(biāo)簽標(biāo)記的測(cè)試方法運(yùn)行后運(yùn)行 @BeforeGroups: 在屬于這個(gè)組的第一個(gè)測(cè)試方法運(yùn)行前運(yùn)行 @AfterGroups: 在屬于這個(gè)組的最后一個(gè)測(cè)試方法被調(diào)用后運(yùn)行 @BeforeClass - 在當(dāng)前已經(jīng)被調(diào)用的類的第一個(gè)測(cè)試方法運(yùn)行前運(yùn)行 @AfterClass - 在當(dāng)前類的所有測(cè)試方法運(yùn)行完成后運(yùn)行 @BeforeMethod - 在每個(gè)測(cè)試方法前運(yùn)行 @AfterMethod - 在每個(gè)測(cè)試方法后運(yùn)行 |
posted on 2014-02-10 10:03 順其自然EVO 閱讀(414) 評(píng)論(0) 編輯 收藏 所屬分類: 測(cè)試學(xué)習(xí)專欄