常被人問到各種探索測(cè)試的問題， 我總是不斷在重復(fù)。因此借一次回答10個(gè)問題的機(jī)會(huì)，把自己的答復(fù)都固化下來， 積累在自己的技術(shù)博客中， 希望能減少重復(fù)回答的次數(shù)。
1、探索性測(cè)試能解決什么樣的問題？不能解決什么類型的問題？
——解決快速發(fā)現(xiàn)功能級(jí)bug的問題；不能系統(tǒng)的解決性能測(cè)試、穩(wěn)定性測(cè)試的問題。
2、一個(gè)產(chǎn)品線如何確定是否適合這種方法？如何將探索性測(cè)試方法與具體的產(chǎn)品結(jié)合起來？
――所有產(chǎn)品都適合應(yīng)用，只是ET所在投入比例不同（我在硬件驅(qū)動(dòng)軟件測(cè)試、Linux文件系統(tǒng)測(cè)試、windows客戶端、web應(yīng)用都應(yīng)用過）；
――方法與產(chǎn)品結(jié)合的辦法是：關(guān)注我的ET TOPN方法，這是測(cè)試界的數(shù)據(jù)分析與數(shù)據(jù)挖掘
3、探索性測(cè)試方法的落實(shí)？如何培訓(xùn)并運(yùn)用到項(xiàng)目中？如何讓測(cè)試人員在項(xiàng)目中將這些方法運(yùn)行起來，或者說將方法與具體的case（涉及到業(yè)務(wù)及功能點(diǎn)）對(duì)應(yīng)起來？
――借助腦圖工具把此次測(cè)試任務(wù)的測(cè)試對(duì)象畫于中心位置，然后把ET的方法作為第一層節(jié)點(diǎn)，在每個(gè)ET方法后面延伸第二層節(jié)點(diǎn)（由ET方法啟發(fā)出來的測(cè)試場(chǎng)景）
4、case是怎樣的管理粒度？如何維護(hù)？
――探索測(cè)試的用例大多不適合回歸（成本很大），只有部分最有價(jià)值的用例適合抽取回歸。
――探索測(cè)試用例繼承性的問題通過腦圖積累，每次探索測(cè)試都是在前一次腦圖的基礎(chǔ)上疊加增長（所有測(cè)試場(chǎng)景的維護(hù)管理：最高層是測(cè)試對(duì)象、然后是測(cè)試方法、最后是測(cè)試場(chǎng)景）
5、怎樣衡量探索性測(cè)試方法的成果？包括階段性的結(jié)果？
――初期學(xué)習(xí)衡量的方式就是：單位時(shí)間內(nèi)投入測(cè)試人時(shí)發(fā)現(xiàn)的bug數(shù)（提升測(cè)試效率）；在測(cè)試用例設(shè)計(jì)階段用探索測(cè)試方法補(bǔ)充的測(cè)試用例發(fā)現(xiàn)的bug數(shù)占總用例發(fā)現(xiàn)bug（提升用例數(shù)）； 在用例執(zhí)行后補(bǔ)充進(jìn)行探索測(cè)試發(fā)現(xiàn)的bug數(shù)（提升測(cè)試質(zhì)量）
――后期熟練后：達(dá)到代碼覆蓋率目標(biāo)的測(cè)試時(shí)間（測(cè)試效率）；用戶發(fā)現(xiàn)bug數(shù)（測(cè)試質(zhì)量）；支持項(xiàng)目的測(cè)試周期（測(cè)試設(shè)計(jì)時(shí)間＋測(cè)試執(zhí)行時(shí)間）縮短。
6、探索性測(cè)試有哪些工具支持？有沒有可能自動(dòng)化回歸？
――大部分探索測(cè)試場(chǎng)景不需要回歸。探索測(cè)試更多是測(cè)試設(shè)計(jì)的武器。
――腦圖工具是目前最好的工具。
7、探索性測(cè)試的測(cè)試方法是否必需通過bug分析選取，這些方法一般多久更新一次，更新的變化很大怎么辦？有通過的或者好用的必選方法嗎？
―――必須要通過bug分析選取；如果沒有bug，可以參考我所推薦的測(cè)試方法分類；
――變化很大沒有影響，說明要么產(chǎn)品形態(tài)和實(shí)現(xiàn)發(fā)生很大變化、要么團(tuán)隊(duì)的人員資源發(fā)生了變化。這正是探索測(cè)試可以快速適配變化的優(yōu)勢(shì)所在。
8、做ET測(cè)試時(shí)如何做到覆蓋所有的用戶場(chǎng)景？通過方法來到達(dá)的嗎？那選擇方法是否很關(guān)鍵？
――所有的用戶場(chǎng)景無法做到，這是共產(chǎn)主義社會(huì)。但能先做到盡可能先覆蓋到大部分的用戶行為模式（很多ET方法就是用戶行為模式的抽象與集成）。
―――選擇方法非常關(guān)鍵，決定影響你ET的效率和質(zhì)量（能否覆蓋到你產(chǎn)品當(dāng)前的主要風(fēng)險(xiǎn)方向）。
9、流程上的問題：補(bǔ)充性探索性測(cè)試是否可以不做漫游測(cè)試，補(bǔ)充性探索性測(cè)試測(cè)試設(shè)計(jì)是否不是必需用腦圖，那還是否能達(dá)到ET的目標(biāo)？
――漫游測(cè)試 是ET在預(yù)測(cè)試和功能基本測(cè)試時(shí)的方法。
――所有探索測(cè)試 都必須事先進(jìn)行計(jì)劃（探索測(cè)試設(shè)計(jì)腦圖就是計(jì)劃），沒有計(jì)劃就可能倒退回自由測(cè)試，無法積累、無法技術(shù)管理、方向錯(cuò)誤、降低效率。
10、探索性測(cè)試一般占項(xiàng)目測(cè)試人力的多少比例？如何平衡投入產(chǎn)出比？
――初期部分同事掌握和實(shí)施探索測(cè)試、熟練后成為團(tuán)隊(duì)內(nèi)部教練、然后逐步全民掌握和應(yīng)用探索測(cè)試。
版權(quán)聲明：本文出自 架構(gòu)師Jack 的51Testing軟件測(cè)試博客：http://www.51testing.com/?293557
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